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首頁 > 產(chǎn)品中心 > 測厚儀 > 薄膜測厚儀 > CHY-CU太陽能封裝膠膜測厚儀

太陽能封裝膠膜測厚儀

簡要描述:太陽能封裝膠膜測厚儀采用機械接觸式測量方式,嚴格符合標準要求,有效保證了測試的規(guī)范性和準確性。又可稱為測厚儀、高精度薄膜測厚儀、薄膜厚度測試儀、薄膜測厚儀、紙張厚度測定儀、臺式測厚儀等。

  • 產(chǎn)品型號:CHY-CU
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-08-23
  • 訪  問  量:287

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應用領(lǐng)域醫(yī)療衛(wèi)生,食品,生物產(chǎn)業(yè),印刷包裝,制藥

太陽能封裝膠膜測厚儀測試原理

機械接觸式測試原理,截取一定尺寸試樣,測量頭自動降落于試樣之上,在一定壓力和一定接觸面積下測試出試樣的厚度值。



太陽能封裝膠膜測厚儀產(chǎn)品特征

7寸液晶觸摸屏顯示,一鍵化操作

嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力

測試過程中測量頭自動升降,有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差

測試數(shù)據(jù)精確穩(wěn)定,每次測量前測量頭自動清零

實時顯示測量結(jié)果的最大值、最小值、平均值以及標準偏差等分析數(shù)據(jù)

系統(tǒng)支持數(shù)據(jù)實時顯示、自動統(tǒng)計、儲存、打印等許多實用功能

微型打印機方便測試結(jié)果快捷輸出

設備內(nèi)置歷史數(shù)據(jù)統(tǒng)計、查詢,并可搜索歷史數(shù)據(jù)

測試應用

薄膜、薄片、隔膜、紙張、紙板、箔片、硅片、金屬片等材料的測試

技術(shù)參數(shù)

測試范圍 0~2 mm(標配)

0.1 μm 0.01um可選

測量速度10 次/min

測量壓力17.5±1 kPa

50 mm2球形測頭可選

尺寸: 450mm(L)*350mm(W)*400mm(H)

重量:35kg

測試標準

該設備滿足多項國家和標準:ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983, BS 4817、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547

產(chǎn)品配置

標準配置:主機、微型打印機

選購件:測量頭



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